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  • pct高溫加速老化試驗(yàn)箱

    歐可pct高溫加速老化試驗(yàn)箱可測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

    更新時(shí)間:2024-05-07

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

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  • pct加速試驗(yàn)試驗(yàn)箱

    pct加速試驗(yàn)試驗(yàn)箱供電系統(tǒng): 1、電源:單相380V50Hz3KW 2、試驗(yàn)用水:純水 3、配有出廠合格證、保修卡、使用說明書各一份。

    更新時(shí)間:2024-05-07

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

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  • 電池包數(shù)碼產(chǎn)品PCT試驗(yàn)箱

    電池包數(shù)碼產(chǎn)品PCT試驗(yàn)箱介紹:又稱為高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測

    更新時(shí)間:2024-05-07

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  • pct蒸汽老化試驗(yàn)箱

    歐可儀器pct蒸汽老化試驗(yàn)箱采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度。采用指針顯示正負(fù)壓表;時(shí)間控制器采LED顯示器;自動(dòng)水位控制器,水位不足時(shí)提供警示。

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  • 芯片PCT老化試驗(yàn)箱

    芯片PCT老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐厭性,氣密性。

    更新時(shí)間:2024-05-07

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