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hast老化試驗(yàn)箱國家標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品詳情 用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。

福永hast老化試驗(yàn)箱容積產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)： 控制方式：微電腦控制 時(shí)間控制：LED顯示器 加壓時(shí)間:0.00Kg～1.04Kgcm2約45分鐘內(nèi) 壓力范圍：0~2.5Kg/cm2（內(nèi)桶設(shè)計(jì)耐壓3.5Kg/cm2）

湖南hast老化試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)適用于國防、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。

芯片高溫高濕高壓試驗(yàn)箱用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱用途：使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。