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半導體加速度離心實驗機

簡要描述：半導體加速度離心實驗機用于確定電子元器件、小型設備和其他電工電子產品經受動態過載環境所產生的力（重力除外）作用下，結構的適應性和性能是否良好，

  • 產品型號：
  • 廠商性質：生產廠家
  • 更新時間：2024-05-10
  • 訪  問  量：937
詳情介紹

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半導體加速度離心實驗機簡述：

本設備用于確定電子元器件、小型設備和其他電工電子產品經受動態過載環境所產生的力（重力除外）作用下，結構的適應性和性能是否良好，以及評定一些元器件的結構完好性，并驗證這些元件在預期的使用環境下經受復合加速度應力是否正常以及結構的承受能力。

半導體加速度離心實驗機特點:

◆ 計算機實時控制，自動生成實驗報告；

◆ 實時顯示試驗曲線及容差、試驗時間；

◆ 可實現多階加速度試驗；

◆ 可實現開路、超限、超速保護；

◆ 可實現自動、手動控制；

◆ 集流滑環電流通道數及大小可滿足任一實驗要求。

離心試驗機規格：


           
型號

           
LXJ-容量

           
大負載

           
3

           
5

           
10

           
20

           
0.05

           
0.04

           
工位數

           
4～6

           
4

           
4～10

           
加速度ｍ/s2

           
30-2000

           
30-2000

           
50-1000

           
50-1000

           
1000-200000

           
5000-400000

           
試品允許高度mm

           
200

           
300

           
試品試驗方向

           
X,Y,Z三個方向分別進行

           
試品中心在裝盤上計算安裝半徑mm

           
200

           
500

           
500

           
100

           
啟動時間min

           
≤3

           
≤4

           
≤3

           
≤4

           
≤5

           
連續工作時間min

           
60

           
30

           
5

           
電源及消耗功率

           
AC 380V 1.5KVA

           
AC 380V 5KVA

           
AC 380V

           
4KVA

           
AC 380V 6.5KVA

           
外形尺寸mm

           
924×910×1242

           
1953×470×993

           
960×960×1200

           
接電裝置

           
15環 500V 5A



           
重量kg

           
1500

           
1700

           
2300

           
1000

           
1500

           
控制系統

           
工控機控制

           
滿足標準

           
GJB150 GJB360 GIB548 GB/T2423 MIL-STD-202F MIL-STD-810F MIL-STD-883C IEC68-2-27

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