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產(chǎn)品中心

車燈高壓高濕試驗(yàn)箱

簡要描述:車燈高壓高濕試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、IEC60068-2-66
2、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4、EIA/JESD22
5、GB/T2423、40-1997

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-05-09
  • 訪  問  量:623
詳情介紹

  車燈高壓高濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)說明:

  用來評價(jià)非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi),暴露出封裝中的弱點(diǎn),如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗(yàn)用來評價(jià)新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計(jì)的更新。應(yīng)該注意,在該試驗(yàn)中會出現(xiàn)一些與實(shí)際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時(shí),可能會出現(xiàn)非真實(shí)的失效模式。

  外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會造成離子遷移不正常生長,而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕:濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如:護(hù)層針孔、裂傷、被覆不良處、、等,進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面,造成腐蝕以及漏電流、、等問題,如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。

  車燈高壓高濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):

  控制方式:微電腦控制

  內(nèi)箱尺寸:(mm)Φ240×D440

  時(shí)間控制:LED顯示器

  加壓時(shí)間:0.00Kg~1.04Kgcm2約45分鐘內(nèi)

  壓力范圍:0~2.5Kg/cm²;(內(nèi)桶設(shè)計(jì)耐壓3.5Kg/cm2)

  壓力波動(dòng):±0.02Kg

  測試條件:溫度121℃,100%R.H飽和蒸氣壓力1.04Kgcm2,

  立式,終尺寸請以實(shí)物為準(zhǔn)

  時(shí)間范圍:000Hr~999Hr

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