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芯片高溫高濕高壓試驗箱用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節，適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業、航天工業、電子芯片IC、IT等物理性變化

飽和加速壽命老化試驗箱用途：使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節，適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業、航天工業、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。

hast非飽和試驗箱圓型門設計，能夠密封溫度與壓力安全鎖定控制，鎖牢固才能啟動試驗機，箱內壓力超壓時具有自動泄壓或手動泄壓。計時安裝，LED數字型計時器，當鍋內溫度達到后計時器確保試驗*，計時從表格1驅動。

歐可pct高溫加速老化試驗箱可測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

pct加速試驗試驗箱供電系統： 1、電源：單相380V50Hz3KW 2、試驗用水：純水 3、配有出廠合格證、保修卡、使用說明書各一份。